Mes: julio 2018

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Nueva solución de limpieza de Leica: Identifique las fuentes de contaminación rápidamente

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Sistema 2 en 1 para el análisis visual y químico de partículas al mismo tiempo. Durante el análisis de limpieza, no hay tiempo para perder el derecho a la fuente de contaminación. La solución Cleanliness Expert de Leica Microsystems ahora le ofrece un análisis de partículas aún más extenso. No solo detecta, cuenta, analiza y […]

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La investigación interna demuestra los beneficios de las imágenes de UV reflejada de onda larga para la mejora de las huellas dactilares con cianoacrilato

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La investigación llevada a cabo por Foster + Freeman, ha agregado más peso al argumento de que la imagenología de UV reflejada de onda larga (LWUVR) debe considerarse la técnica de examen de primera elección cuando se buscan huellas dactilares en pruebas de superpegamentos. En un documento aceptado para su publicación por Forensic Science International, […]

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Contar partículas en filtros de forma rápida y fácil

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Leica Microsystems lanza un nuevo software de análisis de limpieza El nuevo software Cleanliness Expert de Leica Microsystems ya está disponible. Es una solución de limpieza óptima y fácil de usar que le proporciona resultados de análisis fiables y repetibles para las necesidades específicas de su aplicación. Benefíciese de una solución de flujo de trabajo […]

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